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YP-150I高亮度鹵素?zé)?YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置

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YP-150I對(duì)應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片

YP-250I可對(duì)應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片

根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測(cè)各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅

等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等 照度在400000Lx以上

YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型

YP-150I照度范圍φ30

YP-250I照度范圍φ60

用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來