更新時間:2024-04-03 訪問次數(shù):2954
YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片YP-150I照度范圍φ30YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片YP-250I照度范圍φ60YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,汽車,電氣,綜合 |
YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠?/span> |
宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 |
產(chǎn) 品 簡 介 |
YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片 |
YP-150I照度范圍φ30 |
YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片 |
YP-250I照度范圍φ60 |
YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型 |
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 |
可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 / |
霧狀/ 劃傷等 ,照度在400000Lx以上 |
產(chǎn) 品 特 點 |
1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia). |
2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?,色溫高達(dá)3400K,照光和顏色均一了穩(wěn)定強光的照射。 |
3. 由于冷鏡的使用,使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 |
4. 光束直徑由鏡片調(diào)整30-50mm 之間調(diào)整 |
5. 底部開光,調(diào)整照明勘察器高度,操作簡便,可控制光量 |
產(chǎn) 品 用 途 |
YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源,微小瑕疵也可被檢測出來 |
規(guī) 格 書 |
相關(guān)產(chǎn)品